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中文名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
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英文名称：Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Part 2: Measurement of radiated immunity. TEM cell and wideband TEM cell method
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原文名称：
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中标分类：L56
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ICS分类：31.200
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标准分类编号：CN
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页数：
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发布日期：2024-10-26
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实施日期：2024-10-26
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作废日期：
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被替代标准：
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代替标准序号：
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引用标准：
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采用标准化：IEC 62132-2-2010,IDT
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补充修订：
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标引依据：国家标准公告2024年第24号
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标准摘要：
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